Een van de grootste uitdagingen in de productie is kwaliteitscontrole – met name het opsporen van assemblagefouten bij componenten in MicroMELF- en MiniMELF-behuizingen. Om dit soort problemen te voorkomen, raden we aan om:
- meerdere AOI-algoritmes te gebruiken voor de inspectie van hetzelfde component,
- het zichtbereik van de glazen behuizing nauwkeurig in te stellen op de AOI-machine,
- het PCB-gebied handmatig te controleren onder een microscoop.
🔍 Onze aanvulling:
MicroMELF- en MiniMELF-componenten zijn vanwege hun formaat en glazen constructie lastig voor optische inspectiesystemen. Een combinatie van slimme algoritmes, nauwkeurige instellingen en visuele controle onder een microscoop is essentieel om fouten te minimaliseren en te voldoen aan IPC Class 3-eisen.
